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XPS 表征表面元素与化学态，ICP-MS 定量金属/配体含量，用于载体表面与成分确证。技术要点- ●样品要求：XPS 需干燥固体/薄膜；ICP-MS 需消解液或可消解样品。
- ●表面 vs 体相：XPS 反映表面（数纳米），ICP-MS 反映总含量，二者互补。
- ●化学态解析：峰位拟合判断氧化态与配位环境。
- ●定量校准：ICP-MS 需标准曲线与内标校正。
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